Análisis de captura colectiva de microesferas dieléctricas en patrones ópticos 2D

Abstract

Presentamos resultados acerca de la captura y manipulación de micropartículas dieléctricas por medio de las pinzas ópticas. Se destacan dos resultados importantes; el método básico para atrapar una partícula con un solo haz y una técnica interferométrica de atrapamiento múltiple. En el segundo caso es posible la clasificación, es decir, la separación de partículas tanto por tamaño como por índice de refracción mediante un patrón de interferencia dinámico.